အဆိုပါအသေးစားချေးခြင်းနှင့်အီလက်ထရောနစ်ထုတ်ကုန်များ၏မြင့်မားသောစွမ်းဆောင်ရည်နှင့်အတူ,chip ကို resistorအီလက်ထရောနစ်အစိတ်အပိုင်းများ၏အရေးကြီးသောအစိတ်အပိုင်းတစ်ခုအနေဖြင့်၎င်းကို circuit များတွင်ကျယ်ပြန့်စွာအသုံးပြုသည်။ တိကျစွာပြင်ဆင်ဖာထေးမှုများဖတ်ပါခုခံခြင်းခုခံတန်ဖိုးသည်ဆားကစ်များကိုဒီဇိုင်း, စစ်ဆေးခြင်းနှင့်ပြုပြင်ထိန်းသိမ်းခြင်းအတွက်အရေးပါသည်။ ဤရည်မှန်းချက်အောင်မြင်ရန်အင်ဂျင်နီယာများနှင့်ပညာရှင်များကိုထိရောက်စွာတိကျစွာတိုင်းတာရန်ကူညီရန်စျေးကွက်တွင်အထူးကိရိယာများနှင့်ကိရိယာများအမျိုးမျိုးပေါ်ထွက်လာခဲ့သည်။ ဤဆောင်းပါးသည် "Chiptance for that teatings" ကိုအာရုံစိုက်ပြီးစာဖတ်သူများအားပိုမိုကောင်းမွန်သောတိုင်းတာခြင်းဆိုင်ရာကိရိယာများကိုပိုမိုနားလည်ရန်နှင့်ရွေးချယ်ရန်များသောအားဖြင့်အသုံးပြုသောတိုင်းတာခြင်းကိရိယာများနှင့်သူတို့၏ဝိသေသလက္ခဏာများကိုမိတ်ဆက်ပေးလိမ့်မည်။
1 ။ ဒီဂျစ်တယ် multimeter (DMM)ဒစ်ဂျစ်တယ် Multimer သည် chip ခုခံအားကိုတိုင်းတာခြင်းအတွက်တိုင်းတာခြင်း, ဗို့အားဖြင့်တိုင်းတာခြင်းကဲ့သို့သောလုပ်ဆောင်ချက်များစွာဖြင့်အသုံးများသောအီလက်ထရောနစ်တိုင်းတာခြင်းဆိုင်ရာကိရိယာဖြစ်သည်။ အသုံးပြုသောအခါအဆက်အသွယ်မရှိသောကြောင့်စာဖတ်ခြင်းအတက်အကျများကိုရှောင်ရှားရန်စုံစမ်းစစ်ဆေးမှုသည်ကောင်းမွန်သောအဆက်အသွယ်ရှိကြောင်းသေချာပါစေ။ ထို့အပြင်ဒစ်ဂျစ်တယ်ဘက်စုံသူများသည် chip resistors များအားပိုမိုကြီးမားသောခံနိုင်ရည်ရှိသောတန်ဖိုးများဖြင့်တိုင်းတာရန်သင့်လျော်သည်။ Microohm အဆင့်တွင်ခုခံနိမ့်သောတန်ဖိုးများအတွက်တိုင်းတာခြင်းအမှားများရှိနိုင်သည်။2 ။ LCR ဇယားLCR မှာသည် inductnance (L), capacitance (C) နှင့်ခုခံခြင်း (r) ကဲ့သို့သော parameters များကိုတိုင်းတာရန်အထူးအသုံးပြုသည်။ ၎င်းတွင်တိကျမှန်ကန်မှုမြင့်မားပြီးတိကျသောအီလက်ထရောနစ်အစိတ်အပိုင်းများကိုစမ်းသပ်ရန်သင့်တော်သည်။ Chip Resistors များအတွက် LCR 50 သည်တိကျမှန်ကန်သောခုခံချက်များကိုပိုမိုတိကျပြီးအထူးတိကျသောတိုင်းတာမှုများလိုအပ်သည်။ အချို့သောအဆင့်မြင့် LCR မီတာများသည်ကြိမ်နှုန်း၏ဝိသေသလက္ခဏာများကိုဆန်းစစ်လေ့လာရန်အတွက်ကြိမ်နှုန်းစကင်ဖတ်စစ်ဆေးမှုကိုလည်းအထောက်အကူပြုသည်။3 ။ ခုခံစမ်းသပ်သူခုခံမှုအရတော်လှန်ရေးစစ်ဆေးသူသည်မြင့်မားသောတိကျမှန်ကန်မှုနှင့်တည်ငြိမ်မှုနှင့်အတူခုခံတိုင်းတာခြင်းအတွက်အထူးဒီဇိုင်းပြုလုပ်ထားသောကိရိယာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ၎င်းသည် Chip Rescriver ၏ခုခံတန်ဖိုးကိုလျင်မြန်စွာဖတ်နိုင်ပြီးအစိတ်အပိုင်းများအမြောက်အများထုတ်လုပ်မှုကိုစမ်းသပ်ရန်သင့်တော်သည်။ အချို့သောတော်လှန်ရေးစစ်ဆေးသူများအားအလိုအလျောက်မှတ်ပုံတင်ခြင်းဖြင့်တပ်ဆင်ထားသည်။ ၎င်းသည်စမ်းသပ်မှုပုံစံကိုအလိုအလျောက်ဖော်ထုတ်နိုင်ပြီးခံနိုင်ရည်ရှိမှုကိုအလိုအလျောက်ခွဲခြားနိုင်သည်။4 ။ အဏုကြည့်မှန်ပြောင်းအရန်ချစ်ပ်ကိုခံနိုင်ရည်ရှိသည့်အရွယ်အစားအလွန်သေးငယ်သောကြောင့်လက်ကိုင်တူရိယာနှင့်တိုက်ရိုက်တိုင်းတာသည့်အခါစုံစမ်းစစ်ဆေးနေရာတွင်ရပ်တန့်ရန်ခက်ခဲသည်။ အဏုကြည့်မှန်ပြောင်း - ကူညီသည့်တိုင်းတာခြင်းကိရိယာကိုအသုံးပြုခြင်းသည်ဤပြ problem နာကိုထိရောက်စွာဖြေရှင်းနိုင်သည်။ ဤကိရိယာအမျိုးအစားသည် chip resistors များ၏အဆုံးမှတ်ကိုတိကျစွာနေရာချထားရန်နှင့်တိုင်းတာခြင်းဆိုင်ရာစုံစမ်းစစ်ဆေးမှု၏တိကျသောအဆက်အသွယ်များကိုတိကျစွာနေရာချထားရန်အတွက်အဏုကြည့်မှန်ပြောင်းနှင့်တိုင်းတာသည့်ကိရိယာကိုပေါင်းစပ်ထားပြီးသေချာသည်။5 ။ အလိုအလျောက်စမ်းသပ်ကိရိယာများ (စားသုံး)အီလက်ထရောနစ်ကုန်ထုတ်လုပ်မှုနယ်ပယ်တွင်အလိုအလျောက်စမ်းသပ်စက်ကိရိယာများကိုအလိုအလျောက်စစ်ဆေးမှုများနှင့်အခြားအီလက်ထရောနစ်အစိတ်အပိုင်းများကိုအလိုအလျောက်စမ်းသပ်ခြင်းအတွက်ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့်အသုံးပြုသည်။ စားသုံးသူသည်မြန်နှုန်းမြင့်ခုခံတိုင်းတာမှု, အသုတ်စစ်ဆေးခြင်းနှင့်အလိုအလျောက်ဒေတာမှတ်တမ်းတင်ခြင်း, ထုတ်လုပ်မှုထိရောက်မှုနှင့်ထုတ်ကုန်အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုစွမ်းရည်များကိုများစွာတိုးတက်အောင်ပြုလုပ်နိုင်သည်။ ပစ္စည်းကိရိယာများကုန်ကျစရိတ်ပိုမိုမြင့်မားသော်လည်းရင်းနှီးမြှုပ်နှံမှုပြန်လည်ရရှိခြင်းသည်အကြီးစားထုတ်လုပ်မှုကုမ္ပဏီများအတွက်သိသာထင်ရှားသည်။6 ။ အနီအောက်ရောင်ခြည်သာမိုမီတာနှင့်တိုင်းတာခြင်းအချို့သောအထူးအပလီကေးရှင်းများတွင် comm in ကိုခံနိုင်ရည်ရှိခြင်းသည်အပူချိန်နှင့်ပြောင်းလဲသွားသည်။ ခုခံတိုင်းတာခြင်းနှင့်အတူအနီအောက်ရောင်ခြည်မြင့်သာမိုမီတာကိုအသုံးပြုခြင်းသည်ခံနိုင်ရည်ကိုဆန်းစစ်ခြင်းကိုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာနိုင်သည်။ ရရှိနိုင်သည့်ခုခံမှုနှင့်မျက်နှာပြင်အပူချိန်ကိုတစ်ပြိုင်နက်တိုင်းတာခြင်းအားဖြင့်အင်ဂျင်နီယာများသည်ဖိအားပေးမှုစွမ်းဆောင်ရည်ကိုပိုမိုတိကျစွာအကဲဖြတ်နိုင်ပြီး circuit ဒီဇိုင်းကိုပိုမိုကောင်းမွန်အောင်ပြုလုပ်နိုင်သည်။Chips သည်အီလက်ထရောနစ်အစိတ်အပိုင်းများအတွက်အခြေခံအစိတ်အပိုင်းများဖြစ်ပြီး၎င်းတို့၏ခုခံမှုကိုတိကျသောတိုင်းတာခြင်းသည်အီလက်ထရောနစ်ထုတ်ကုန်များ၏စွမ်းဆောင်ရည်နှင့်တည်ငြိမ်မှုအတွက်တိကျမှန်ကန်မှုရှိသည်။ ဤဆောင်းပါးသည်ဒစ်ဂျစ်တယ်တိုတိုတိုတိုတိုတိုတိုများ, VCRE Multers, VCRENTED MOVCOPE MOVCOPE - MOBRENDING MOVCOPE - MOBRENDING MOVERRING MOVERRING MOVERRED ကိရိယာများ, မတူညီသောကိရိယာများသည်၎င်းတို့၏ကိုယ်ပိုင်အားသာချက်များနှင့်အားနည်းချက်များရှိပြီးမတူညီသောတိုင်းတာခြင်းလိုအပ်ချက်များနှင့် application များနှင့်သက်ဆိုင်သည်။ မှန်ကန်သောတိုင်းတာရန်ကိရိယာကိုရွေးချယ်ခြင်းသည်တိုင်းတာခြင်းတိကျမှန်ကန်မှုကိုတိုးတက်စေရုံသာမက, အနာဂတ်တွင်အီလက်ထရွန်နစ်နည်းပညာဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုနှင့်အတူချစ်ပ်ကိုခုခံခြင်းဆိုင်ရာပွန်နမ်းခြင်းဆိုင်ရာကိရိယာများကိုပိုမိုခိုင်မာလာစေပြီးအီလက်ထရွန်းနစ်စက်မှုလုပ်ငန်းဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုအတွက်ပိုမိုခိုင်မာသောနည်းပညာအထောက်အပံ့များပေးသည့်အတွက်ပိုမိုကောင်းမွန်သောအလိုအလျောက်အထောက်အပံ့များပေးလိမ့်မည်။